© Angelo Veronesi 1999

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8. INTERFEROMETRO DI MICHELSON.

 

SCOPO DELL’ESPERIENZA

Misura della lunghezza d’onda di un fascio di luce monocromatica (laser), dell’indice di rifrazione dell’aria e della lunghezza dei pacchetti d’onda di una sorgente non monocromatica.

 

CENNI DI TEORIA.

Fig.8.1. Schema dell’interferometro di Michelson impiegato in laboratorio

Lo specchio L1 ( semitrasparente ed inclinato di 45o rispetto alla direzione del fascio incidente) e lo specchio L2 sono in posizione fissa, mentre lo specchio L3 può essere traslato mediante una vite micrometrica. Sul ramo L1 L2 dell’interferometro è inserita una lastra di compensazione Lc la cui presenza non è essenziale per misure di tipo differenziale. Tra la sorgente laser e l’interferometro è posta una lente divergente che facilita l’osservazione delle frange d’interferenza sullo schermo.

 

ANALISI DEI DATI.

 

a) Misura della lunghezza d’onda della luce laser.

Dopo aver prodotto sullo schermo la figura d’interferenza a frange circolari si procede a variare la posizione dello specchio L3 mediante la vite micrometrica contando il numero di frange scure o luminose che attraversano un punto prefissato dello schermo. Lo spostamento D x subito dallo specchio L3 è legato al numero N di frange contate dalla relazione:

2nD x = Nl

in cui il termine 2nD x rappresenta la variazione di cammino ottico del raggio luminoso nel tratto L1L3 ed n rappresenta l’indice di rifrazione dell’aria. Nel calcolo abbiamo utilizzato il valore tabulato:

n =1.000293.

 

 

 

 

N

D x

l

s (l )

m m

nm

nm

100

32

640

40

100

32

640

40

100

32

640

40

200

62

620

20

200

64

640

20

200

64

640

20

200

64

640

20

 

Stimando un’incertezza s (D x) = 2 m m abbiamo ottenuto il seguente valore:

l = 636 ± 9 nm

 

b) Misura dell’indice di rifrazione dell’aria.

Per eseguire questa misura (utilizzando sempre la medesima sorgente laser) si pone sul cammino di uno dei due rami dell’interferometro un tubo, chiuso da lamine di vetro a facce piane e parallele, nel quale è stato praticato il vuoto mediante una pompa rotativa. Immettendo mediante una valvola dosatrice l’aria, si osserva uno spostamento delle frange d’interfenza in quanto varia il cammino ottico nel tubo. Contando il numero N di frange luminose che attraversano un punto prefissato dello schermo, il valore dell’indice di rifrazione n0 , relativo alla pressione e temperatura a cui si trova il gas, viene ricavato dalla seguente relazione:

D = 2 (n0 -1)d = Nl

essendo D la differenza di cammino ottico.

 

N

n0

s (n0)

46

1.000292

4.13E-06

45

1.000285

4.04E-06

44

1.000279

3.95E-06

44

1.000279

3.95E-06

43

1.000273

3.86E-06

 

Nel calcolo, per la lunghezza d’onda della sorgente laser, abbiamo utilizzato l ricavato in precedenza, ecco il risultato ottenuto:

n0 = 1.0002812 ± 0.0000018

 

b) Misura della lunghezza dei pacchetti d’onda di una sorgente di luce non monocromatica.

Sostituita la sorgente laser con una sorgente di luce non monocromatica si sposta lo specchio mobile fino a quando sullo schermo non appaiono le figure d’interferenza. Tali figure presentano una macchia centrale bianca circondata da una serie di anelli fortemente colorati: ciò è dovuto al fatto che la posizione sullo schermo dei massimi e dei minimi d’intensità varia con la lunghezza d’onda delle varie componenti dello spettro. Continuando a spostare lo specchio L3 si osserva un progressivo indebolimento della figura d’interferenza fino alla sua completa scomparsa. Questo risultato è dovuto al fatto che la differenza di cammino ottico tra i due pacchetti d’onda è diventata superiore alla lunghezza del singolo pacchetto. In questo caso sullo schermo non si sovrappongono più pacchetti coerenti ma pacchetti che non hanno più una correlazione di fase costante nel tempo. Per determinare la lunghezza dei pacchetti d’onda è sufficiente misurare lo spostamento D x dello specchio L3 che porta da una situazione di illuminazione omogenea alla successiva. Indicando con l p la lunghezza del pacchetto d’onda si ha:

l p = D x

Abbiamo misurato due valori x1 e x2 relativi ad un origine fissata in prossimità dei quali abbiamo osservato due massimi d’interferenza successivi con un’incertezza s (x) = 1 mm:

x1 = 21.47 mm

D x = x1 - x2 = 0.05 ± 0.01 mm

x2 = 21.42 mm


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